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KDB-III變比測(ce)試器(qi)技術參數本公司(si)研(yan)制生(sheng)產(chan)的(de)變壓器(qi)變比組別測(ce)試儀 采用32位(wei)ARM內核作(zuo)為(wei)處理的(de)核心，對(dui)整(zheng)機進行控制。實現了單相(xiang)或三相(xiang)變壓器(qi)的(de)變比測(ce)量的(de)一次完(wan)成。儀器(qi)的(de)操作(zuo)全部用中文菜(cai)單顯示，簡(jian)單直觀。測(ce)試結果準確(que)可靠，并(bing)且能(neng)夠存儲(chu)和打(da)印測(ce)試結

TE2020變比(bi)(bi)測(ce)(ce)試器(qi)使(shi)用方(fang)法本公司研制生(sheng)產(chan)的(de)(de)變壓(ya)器(qi)變比(bi)(bi)組(zu)別測(ce)(ce)試儀(yi) 采用32位ARM內核作(zuo)為處理(li)的(de)(de)核心，對整機進行控制。實現了單相或(huo)三相變壓(ya)器(qi)的(de)(de)變比(bi)(bi)測(ce)(ce)量的(de)(de)一(yi)次完成。儀(yi)器(qi)的(de)(de)操作(zuo)全部用中文菜(cai)單顯示，簡單直觀。測(ce)(ce)試結(jie)果準確(que)可(ke)靠，并且(qie)能(neng)夠存儲和打印測(ce)(ce)試結(jie)

GDB-III變(bian)比(bi)(bi)測(ce)試(shi)(shi)(shi)器定制本公司研制生產的(de)(de)(de)變(bian)壓器變(bian)比(bi)(bi)組別測(ce)試(shi)(shi)(shi)儀(yi)(yi) 采用32位ARM內核作(zuo)為處理(li)的(de)(de)(de)核心(xin)，對整機進(jin)行控制。實現了單(dan)相或三相變(bian)壓器的(de)(de)(de)變(bian)比(bi)(bi)測(ce)量的(de)(de)(de)一次(ci)完成。儀(yi)(yi)器的(de)(de)(de)操作(zuo)全部用中(zhong)文(wen)菜單(dan)顯示，簡單(dan)直觀。測(ce)試(shi)(shi)(shi)結果準確可靠，并且能夠(gou)存(cun)儲和打(da)印(yin)測(ce)試(shi)(shi)(shi)結

NDBC-VI變(bian)(bian)比(bi)測(ce)試(shi)器優惠本公(gong)司(si)研制生產的(de)(de)變(bian)(bian)壓器變(bian)(bian)比(bi)組別測(ce)試(shi)儀 采(cai)用(yong)32位ARM內核(he)作為處理的(de)(de)核(he)心，對整機進行控制。實(shi)現了單(dan)相(xiang)或三相(xiang)變(bian)(bian)壓器的(de)(de)變(bian)(bian)比(bi)測(ce)量的(de)(de)一次(ci)完成。儀器的(de)(de)操作全(quan)部用(yong)中文菜單(dan)顯示，簡單(dan)直觀。測(ce)試(shi)結(jie)果準確可(ke)靠(kao)，并(bing)且能夠存(cun)儲和打印(yin)測(ce)試(shi)結(jie)

TLHG-205T變比測(ce)試器(qi)*本公司研制(zhi)(zhi)生產(chan)的變壓器(qi)變比組別測(ce)試儀(yi) 采用(yong)32位(wei)ARM內核作為處理的核心，對(dui)整機進行控制(zhi)(zhi)。實(shi)現了單相(xiang)或三相(xiang)變壓器(qi)的變比測(ce)量的一(yi)次完成。儀(yi)器(qi)的操(cao)作全部用(yong)中文菜(cai)單顯示(shi)，簡單直觀。測(ce)試結(jie)果準(zhun)確可靠，并且(qie)能(neng)夠存儲和打印測(ce)試結(jie)

HBB-V變比測(ce)(ce)(ce)試(shi)器(qi)廠家本公(gong)司研制生產的變壓器(qi)變比組(zu)別測(ce)(ce)(ce)試(shi)儀(yi) 采用(yong)32位(wei)ARM內核(he)作為處(chu)理(li)的核(he)心(xin)，對整機進行控制。實現了單相或三相變壓器(qi)的變比測(ce)(ce)(ce)量的一次完(wan)成。儀(yi)器(qi)的操作全部用(yong)中文(wen)菜(cai)單顯(xian)示，簡單直觀(guan)。測(ce)(ce)(ce)試(shi)結(jie)果準確可靠，并且(qie)能(neng)夠存儲和打印測(ce)(ce)(ce)試(shi)結(jie)

BOBC-Ⅱ變(bian)比(bi)測(ce)試器技術參數本公(gong)司研制生(sheng)產的(de)變(bian)壓器變(bian)比(bi)組別測(ce)試儀 采(cai)用(yong)32位ARM內核作(zuo)為處理的(de)核心，對整機進行(xing)控(kong)制。實現了單相(xiang)或三相(xiang)變(bian)壓器的(de)變(bian)比(bi)測(ce)量的(de)一(yi)次完成。儀器的(de)操作(zuo)全部(bu)用(yong)中文菜單顯示，簡單直觀。測(ce)試結(jie)果準確可靠(kao)，并且能夠存儲(chu)和打印測(ce)試結(jie)